更新时间:2026-09-18
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近日,日华化学(NICCA)正式发布L‑630 水基精密晶圆清洗剂,依托集团多年界面化学技术积累(原大智化学半导体材料产品线),专门针对金刚线切片后、CMP 抛光后晶圆清洗场景开发,有效去除切割液残留、抛光浆料颗粒、硅粉及微量金属杂质,为硅衬底、SiC、蓝宝石等硬脆基材提供低损伤、高洁净度的清洗解决方案。
L‑630 为浓缩型水基清洗剂,采用特种非离子表面活性剂搭配螯合剂复配体系,无有机溶剂、低金属离子、低泡特性。产品具备优异的润湿渗透能力,可快速剥离附着在晶圆表面的 CL 系列切割液有机膜、PA 系列胶体二氧化硅研磨残渣;配方内置高效防再吸附技术,剥离后的微颗粒会被表面活性剂稳定包裹,避免颗粒二次回沾晶圆表面。同时螯合剂可络合游离金属离子,降低衬底表面金属污染风险。稀释后工作液接近中性,对单晶硅、氧化硅膜层、SiC、蓝宝石基材腐蚀性极低,不会造成衬底表面损伤。
颗粒剥离 + 防回沾双效高效去除硅微粉、胶体硅抛光残渣,抑制剥离颗粒再次吸附晶圆,显著提升衬底表面洁净度,降低表面颗粒缺陷。
基材兼容性优异温和配方,对硅、碳化硅、蓝宝石、石英等多种衬底无腐蚀,兼顾槽式超声清洗与单片喷淋清洗工艺。
低泡易漂洗低泡配方,不会干扰超声与喷淋产线;DIW 超纯水漂洗简单,无表面活性剂残留,不影响后续退火、外延等工序。
完整配套衬底耗材体系可与 NICCA CL‑821、CL‑8830 金刚线切割液、PA880/PA890 直排式 CMP 研磨液配套使用,形成晶棒切割→CMP 抛光→精密清洗一站式材料方案。
本地化技术服务国内技术团队可提供试样、浓度配比、槽液管理、清洗工艺调试等现场支持,助力衬底产线稳定量产。
L‑630 适用于光伏硅片、半导体硅衬底、第三代半导体 SiC 衬底、蓝宝石光学基材,覆盖切片后预清洗与 CMP 抛光后精清洗两大关键工序。