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| 品牌 | OTSUKA/大塚电子 |
|---|
手持式便携设计，整机约 1.1kg，自带触控屏幕、内置锂电池，连续使用≥4 小时；可直接带入无尘车间、涂布产线、仓库现场检测，无需把样品拿回实验室，AC 适配器也可接电长期使用。
非接触无损测量，不划伤样品；曲面、异形件、湿膜都可测；无需制作检量线，金属 / 非金属基材都适用，对比涡流、接触式测厚仪，减少人为操作误差。
高速单点测量，单次测量约 1 秒；Pro 版可解析最多3 层多层薄膜，标准版仅单层；Pro 可显示反射光谱、功率谱，方便异常分析。
光斑 Φ1mm 以下，光纤探头式；可选笔型细探头，伸入狭小凹槽、边角位置测量；支持离线抽检，不破坏工件，样品测完可继续流向下工序。
数据存储与导出：仪器本地保存记录，U 盘导出 CSV 报表；自带简单折射率参数设置，直接输出膜厚数值，操作简单，产线人员快速上手。
白光 LED 光源，寿命长；波长范围 400~1000nm 可见光波段。
| 项目 | SM-110PO（Pro 专业款） | SM-110SO（Standard 标准版） |
|---|---|---|
| 测量原理 | 反射分光法（光学干涉） | 反射分光法（光学干涉） |
| 波长范围 | 400～1000 nm | 400～1000 nm |
| 膜厚范围（n=1.6 参考） | 单层：0.1～100μm；多层：1～100μm | 单层：1～50μm |
| 多层解析 | 最多 3 层薄膜 | 仅单层膜 |
| 光斑直径 | Φ1mm 以下 | Φ1mm 以下 |
| 重复性 | 2.1σ | 2.1σ |
| 单次测量时间 | 约 1 秒 | 约 1 秒 |
| 整机尺寸 | 138(W) ×198(D) ×61(H) mm | 138(W) ×198(D) ×61(H) mm |
| 重量 | 约 1.1kg | 约 1.1kg |
| 供电 | 内置锂电池（≥4h） / AC100~240V 适配器 | 内置锂电池（≥4h） / AC100~240V 适配器 |
| 数据输出 | U 盘导出 CSV，可查看反射光谱 | U 盘导出 CSV，无光谱显示 |
| 探头选项 | 标准探头 / 选配笔型窄空间探头 | 标准探头 / 选配笔型窄空间探头 |
样品：透明 / 半透明薄膜，膜层存在界面反射；基材玻璃、PET、PI、硅片、金属基板均可；可测固化膜、未固化湿膜。
环境：洁净车间、涂布产线、实验室，环境温度 10～35℃；尽量避免强光直射、强震动。
样品表面：样品表面清洁，少量粉尘可擦拭；曲面、台阶、异形零件都支持测量。
光学薄膜行业（主力）AR 减反膜、HC 硬化膜、AF 防指纹涂层、TAC/PET 光学涂布膜、保护膜、胶层厚度巡检；卷材涂布现场抽检，快速监控膜厚均匀性。
FPD 显示PI 取向膜、光刻胶、PS 间隔物、OLED 封装薄膜、偏光膜涂层；产线现场抽检，不用送样去台式实验室。
半导体 & 封装晶圆光刻胶、封装树脂、钝化有机涂层；仅大面积区域，微小芯片 pattern 不适合。
新材料 / 涂料DLC 涂层、胶粘剂、功能性涂布、光学滤光片涂层、光伏有机涂层；来料检验、现场工艺调试。
研发实验室试样快速筛查、异形件、小批量样品抽检；作为台式 OPTM 的现场辅助抽检设备。
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