简要描述：SANKO三高 薄膜厚度测量的探针式测量台用于薄膜厚度测量的探针式测量台，即使是微小的物体也能稳定地进行测量
定位：SANKO 全系列分体膜厚仪实验室精密测量选配支架，解决手持探头压力不稳、角度倾斜、微小工件难以定位、数据重复性差的痛点。

1. 恒定压力垂直测量

   机械结构控制探头垂直下压，每次接触压力、角度一致，消除人手抖动、施力大小不一带来的误差；微小零件、螺丝、微型冲压件、边角点位测量稳定性大幅提升。

2. 兼容 SANKO 主流分体探头

   SWT-NEO 系列（FN/SNFe/SFe 探头）、CTR-2000V 探头、Pro-S/Pro-W 外接探头均可适配；

3. 三轴可调结构

   垂直升降丝杆 + 万向探头夹具，可微调探头高度、角度；底座平台可摆放小型治具固定微型工件。

4. 金属重型底座

   自重高，测量过程不会晃动，适合长时间连续检测。

SANKO三高 薄膜厚度测量的探针式测量台 基础规格参数

• 外形尺寸：120 (W) × 200 (D) × 280 (H) mm

• 整机重量：约 1.6 kg

• 升降行程：最大 120 mm

• 夹持方式：可调抱箍，适配 SANKO 全系标准圆形探头（φ10～φ14mm）

• 操作方式：手动旋钮升降，缓慢下放探头接触样品

• 使用环境：0～40℃，实验室、质检工位适用

典型运用场景（对应微小工件需求）

1. 精密五金紧固件

   螺丝、销轴、小型螺母镀锌、镀铬、油漆膜厚；零件尺寸小，手持极易打滑、测点偏移。

2. 铝合金精密小件

   铝压铸件、小型腔体、连接器阳极氧化膜检测（搭配 SNFe-0.6 薄量程探头）。

3. 半导体设备零部件

   小型铝制支架、精密机加工零件局部涂层定点复测，实验室做对比测试。

4. 汽车微型零部件

   电磁阀小件、卡扣、精密冲压件边角、台阶位置涂层测量。

5. 第三方检测实验室

   需要数据重现性、同一点多次复测，满足检测报告规范性要求。