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2026-08-14 -
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SANKO三高 薄膜厚度测量的探针式测量台用于薄膜厚度测量的探针式测量台，即使是微小的物体也能稳定地进行测量 定位：SANKO 全系列分体膜厚仪实验室精密测量选配支架，解决手持探头压力不稳、角度倾斜、微小工件难以定位、数据重复性差的痛点。
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