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| 品牌 | SHINKO SEIKI/神港精机 | 产地类别 | 进口 |
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原理:Senarmont 塞纳蒙补偿法(偏振光光弹性法),用来测量透明材料残余应变、双折射光程差,和前面讲的偏光应力仪同大类,神港精机主力实验室 / 品检型应变测量设备SF‑II C、SF‑II L 是主机;SF‑II Assist 是选配自动化图像测量套件(不是独立主机,必须加装在 SF‑II 主机上使用)
采用 Senarmont 相位补偿法
光源输出单色偏振光,穿过待测透明样品;样品存在内应力时产生双折射,入射偏振光分解成正交两束光,产生光程差;
通过 Senarmont 旋转检偏器做相位补偿,消光读取相位差;
换算得到双折射光程差、材料应变值;搭配敏感色板可目视观察应力彩色条纹;
加装 SF‑II Assist 套件:CCD 相机 + 图像采集镜头 + 软件,彩色图像处理自动判读,多点批量测量,消除人工读数误差神港精机株...。
光源:15V 150W 卤素光源,光谱丰富,适合玻璃、厚光学件
特点:目视定量测量,手动旋转补偿,实验室标准机型;适合研发、来料抽检;可加装 SF‑II Assist 升级自动测量
适用:玻璃、厚光学基材、高光弹系数塑料
光源:24V 48W LED 光源,低发热、寿命长,光源稳定性优于卤素灯
特点:产线 QC 优选,温升小,长时间连续检测;同样可加装 SF‑II Assist 自动化套件
适用:光学塑料、薄玻璃、光学镜片批量质检
不含主机,需要搭配 SF‑II C / SF‑II L 本体使用,包含:CCD 相机、成像镜头、专业测量软件、采集模块、电脑端程序
核心功能:
彩色图像自动处理,消除人工读数差异,重复性更好;
支持最多同时 10 个点位一次性测量,大幅提升批量样品效率;
自动保存测量图像 + 数据,一键生成 Word 可编辑检测报告;
相机倍率可选:2×、4×、特写微距模式;视场 φ40mm;
保留原 Senarmont 高精度算法,精度维持 1.6nm 光程差
测量精度高:双折射测量精度 1.6 nm;主干涉级测量范围 0~590nm;
视场 φ40mm;可搭配敏感色板,既能定量读数,也可目视观察应力分布;
无损非接触,只测透明 / 半透明材质(玻璃、PMMA、PC、光学树脂、透明陶瓷);
既可单点精准定量,加装 Assist 后实现自动化多点批量检测;
神港精机SHINKO SEIKI旋光式应变测量仪规格参数:
