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| 品牌 | Nikon/日本尼康 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,电子/电池,电气,半导体,机械设备 |
特点：紧凑型陶瓷基准台；陶瓷耐磨、不易生锈，热稳定性优于钢材；底座轻巧，桌面放置省空间；可快速升降调节测头高度。工况：实验室、洁净车间；避免硬质工件直接撞击台面；环境温度 0~40℃，减少震动。运用场景：PCB、FPC、连接器、小型半导体基板、手机小件厚度 / 段差抽检，常规精密质检。
特点：钢制硬化台面，抗冲击、耐磨损、适合车间油污粉尘环境；自重 18.4kg，稳定性强；最大被测高度 250mm，可测更高工件；防锈硬化处理，维护简单。工况：工厂产线、机加工车间；允许少量粉尘 / 切削油；减少强冲击，定期做台面清洁防锈。运用场景：模具镶件、机加工轴类、汽车精密垫片、大型塑胶件深度、台阶高度检测；产线在线检测工位。
特点：辉长岩大理石基准台，平面度全系列（0.002mm）；热膨胀系数低，温度波动下基准稳定性最高；刚性好，适合超高精度测量。工况：恒温计量室、精密实验室；避免尖锐测针重压划伤大理石表面，忌强酸强碱。运用场景：量块比对、光学元件、晶圆基板、陶瓷封装件、MEMS 器件等高精密尺寸检测，计量室标准检测台。
特点：超大大理石平台，400×300mm 宽大台面；最大工件高度 300mm；自重 36kg，减振性能ji佳，适合大尺寸工件。工况：恒温质检室；减少撞击，大理石台面注意防护。运用场景：大尺寸基板、大面积陶瓷板、大型光学镜片、模组总成；可同时放置多个工件批量检测。
特点：MH-15M 专属小圆陶瓷台，平面度最高 0.001mm；安装孔 Ø8mm，仅适配 MH-15M 小行程超高精度测头；圆形陶瓷基准，亚微米测量基准。工况：半导体洁净房、恒温微测量工位；低振动，严控温度变化；严禁硬物刮擦陶瓷面。运用场景：芯片凸点高度、光刻胶台阶、微小 MEMS、薄膜厚度，半导体封装微小零件亚微米级检测。
| 型号 | 适配测头 | 台面材质 | 台面尺寸 | 台面平面度 | 被测物最大高度 | 安装孔径 | 重量 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| MS-12C | MF-501 / MF-1001 | 陶瓷 | 111×111 mm | ≤0.005 mm | 约 160 mm | Ø25 mm | 6 kg |
| MS-22S | MF-501 / MF-1001 | 淬火钢 | 150×150 mm | ≤0.003 mm | 约 250 mm | Ø25 mm | 18.4 kg |
| MS-32G | MF-501 / MF-1001 | 辉长岩大理石 | 120×180 mm | ≤0.002 mm | 约 180 mm | Ø25 mm | 6 kg |
| MS-41G | MF-501 / MF-1001 | 辉长岩大理石 | 400×300 mm | ≤0.003 mm | 约 300 mm | Ø25 mm | 36 kg |
| MS-51C | MH-15M 专用 | 陶瓷 | Φ100 mm（圆形） | ≤0.001 mm | 约 136 mm | Ø8 mm | 11 kg |
环境温度：0~40℃，高精度测量建议 20±2℃恒温环境
减少震动：远离冲床、空压机等振动源，必要加减震垫
台面保护：大理石 / 陶瓷台面禁止硬物撞击，尖测针不可重压；钢制 MS-22S 定期清洁防锈
环境：尽量避免阳光直射、湿度剧烈变化；洁净区使用需保持台面无尘
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