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| 品牌 | Nikon/日本尼康 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,电子/电池,电气,半导体,机械设备 |
日本NIKON尼康MF-1001数显高度计特点：超精密紧凑型，内置尼康光学线性编码器；测量力可控；仅可配 TC-200 外置显示器；可加装防尘波纹管；支持 RS232 数据输出，可接入产线自动测量；体积轻（220g），适合微小元器件
日本NIKON尼康MF-1001数显高度计工况：工作温度：0~40℃；储存：-20~60℃；低振动、少粉尘、避免阳光直射；主轴径向载荷≤0.98N；测量方向任意；响应速度≤100mm/s；向下测量力约0.64N
MFC-200：直接挂载测量头部，一体化，读数 0.1μm 起，小巧省空间；仅适配 MF-501/MF-1001
TC-200：独立外置显示器，最高 0.01μm 超高分辨率，多档位分辨率切换；MH-15M 只能搭配 TC-200；MF-501、MF1001 均可选用；标配 RS232C、打印输出，方便 SPC 数据采集
光学式线性编码器：接触式精密测长，相比百分表 / 普通高度计，重复精度ji高，微米 / 亚微米级测量；
模块化组合：测头、计数器、测量台自由选配，可实验室抽检，也可嵌入自动化治具在线检测；
多规格测针可选：平面测针、球面测针、薄片测针、小直径尖测针，适配薄膜、晶圆、PCB、微小芯片；
可选防尘波纹管，保护主轴，延长寿命；
数字信号输出，对接电脑、打印机、MES/SPC 系统，记录测量数据；
可测：厚度、台阶高度、深度、平行差、凸起 / 凹陷高度。
半导体行业：晶圆厚度、光刻胶台阶高度、封装芯片凸点高度、载板、基板段差、UV 胶层厚度、陶瓷封装件；
精密电子：手机零部件、连接器、FPC、屏幕玻璃厚度、微型弹簧、MEMS 器件；
精密机械：轴承、精密垫片、研磨件厚度、模具微小台阶；
实验室 / 质检室：来料抽检、成品终检；自动化产线嵌入在线高度检测工位；
光学元件：光学镜片厚度、滤光片高度差。
| 型号 | 测量范围 | 精度 (20℃) | 最小读数（搭配计数器） | 产品特点 | 工况条件 |
|---|---|---|---|---|---|
| MH-15M | 0~15mm | 0.7μm | TC-200：0.01μm（多档切换） | 超精密紧凑型，内置尼康光学线性编码器；测量力可控；仅可配 TC-200 外置显示器；可加装防尘波纹管；支持 RS232 数据输出，可接入产线自动测量；体积轻（220g），适合微小元器件 | 工作温度：0~40℃；储存：-20~60℃；低振动、少粉尘、避免阳光直射；主轴径向载荷≤0.98N；测量方向任意；响应速度≤100mm/s；向下测量力约 0.64N |
| MF-501 | 0~50mm | 1μm | MFC-200：0.1μm；TC-200：0.01μm | 通用中行程高精度测头；MFC-200 可直接装在测头上，一体式；TC-200 分体大屏；可更换测针；搭配陶瓷 / 钢 / 大理石基座；防尘波纹管可选；适合多品类精密件厚度、台阶测量 | 工作温度 0~40℃；低振动；避免粉尘、温度骤变；最大响应 500mm/s；支持手动 / 半自动测量 |
| MF-1001 | 0~100mm | 3μm | MFC-200：0.1μm；TC-200：0.01μm | 长行程版本，最大 100mm 量程；兼顾行程与精度；两种计数器可选；适配大尺寸测量台 MS-41G；可测较大工件高度、凹槽深度 | 工作温度 0~40℃；低振动环境；减少冲击载荷；适合厚度、段差、深度检测 |
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