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日本NIKON尼康DIGIMICRO测量支架MS-22S

简要描述:日本NIKON尼康DIGIMICRO测量支架MS-22S
新版 5 款支架,MS-22S 为升级款,替代旧 MS-23S,用于搭配 MF-501 / MF-1001 / MH-15M 测头,整套测微系统基准台架

基础信息

产品型号

厂商性质

经销商

更新时间

2026-10-20

浏览次数

10
详细介绍
品牌Nikon/日本尼康产地类别进口
应用领域能源,电子/电池,电气,半导体,机械设备

日本NIKON尼康DIGIMICRO测量支架MS-22S各型号产品特点、工况、应用场景

MS-12C

特点:紧凑型陶瓷基准台;陶瓷耐磨、不易生锈,热稳定性优于钢材;底座轻巧,桌面放置省空间;可快速升降调节测头高度。工况:实验室、洁净车间;避免硬质工件直接撞击台面;环境温度 0~40℃,减少震动。运用场景:PCB、FPC、连接器、小型半导体基板、手机小件厚度 / 段差抽检,常规精密质检。

MS-22S

特点:钢制硬化台面,抗冲击、耐磨损、适合车间油污粉尘环境;自重 18.4kg,稳定性强;最大被测高度 250mm,可测更高工件;防锈硬化处理,维护简单。工况:工厂产线、机加工车间;允许少量粉尘 / 切削油;减少强冲击,定期做台面清洁防锈。运用场景:模具镶件、机加工轴类、汽车精密垫片、大型塑胶件深度、台阶高度检测;产线在线检测工位。

MS-32G

特点:辉长岩大理石基准台,平面度全系列(0.002mm);热膨胀系数低,温度波动下基准稳定性最高;刚性好,适合超高精度测量。工况:恒温计量室、精密实验室;避免尖锐测针重压划伤大理石表面,忌强酸强碱。运用场景:量块比对、光学元件、晶圆基板、陶瓷封装件、MEMS 器件等高精密尺寸检测,计量室标准检测台。

MS-41G

特点:超大大理石平台,400×300mm 宽大台面;最大工件高度 300mm;自重 36kg,减振性能ji佳,适合大尺寸工件。工况:恒温质检室;减少撞击,大理石台面注意防护。运用场景:大尺寸基板、大面积陶瓷板、大型光学镜片、模组总成;可同时放置多个工件批量检测。

MS-51C

特点:MH-15M 专属小圆陶瓷台,平面度最高 0.001mm;安装孔 Ø8mm,仅适配 MH-15M 小行程超高精度测头;圆形陶瓷基准,亚微米测量基准。工况:半导体洁净房、恒温微测量工位;低振动,严控温度变化;严禁硬物刮擦陶瓷面。运用场景:芯片凸点高度、光刻胶台阶、微小 MEMS、薄膜厚度,半导体封装微小零件亚微米级检测。


日本NIKON尼康DIGIMICRO测量支架MS-22S规格总表

型号适配测头台面材质台面尺寸台面平面度被测物最大高度安装孔径重量
MS-12CMF-501 / MF-1001陶瓷111×111 mm≤0.005 mm约 160 mmØ25 mm6 kg
MS-22SMF-501 / MF-1001淬火钢150×150 mm≤0.003 mm约 250 mmØ25 mm18.4 kg
MS-32GMF-501 / MF-1001辉长岩大理石120×180 mm≤0.002 mm约 180 mmØ25 mm6 kg
MS-41GMF-501 / MF-1001辉长岩大理石400×300 mm≤0.003 mm约 300 mmØ25 mm36 kg
MS-51CMH-15M 专用陶瓷Φ100 mm(圆形)≤0.001 mm约 136 mmØ8 mm11 kg

通用工况要求(全部支架)

  1. 环境温度:0~40℃,高精度测量建议 20±2℃恒温环境

  2. 减少震动:远离冲床、空压机等振动源,必要加减震垫

  3. 台面保护:大理石 / 陶瓷台面禁止硬物撞击,尖测针不可重压;钢制 MS-22S 定期清洁防锈

  4. 环境:尽量避免阳光直射、湿度剧烈变化;洁净区使用需保持台面无尘

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